紫外光照老化箱只需要幾天或幾周時間，設(shè)備可以再現(xiàn)戶外需要數(shù)月或數(shù)年所產(chǎn)生的破壞。所造成的損害主要包括退色、變色、亮度下降、粉化、龜裂、變模糊、脆化、強度下降及氧化。設(shè)備提供的測試數(shù)據(jù)在對新材料的選擇、對現(xiàn)有材料的改進或評估影響產(chǎn)品耐用性的組成變化等方面有極大的幫助。設(shè)備可以極好地預測產(chǎn)品將在戶外遭遇的變化。
半導體照明是21世紀發(fā)展前景的高技術(shù)領(lǐng)域之一。20世紀90年代以來,隨著氮化稼為代表的第三代半導體的興起,紫光、藍光和白光發(fā)光二級管( 比D )相繼研究成功,LeD作為新型高品質(zhì)固體光源具有長壽命、節(jié)能、綠色環(huán)保的顯著優(yōu)點,將成為人類照明史上繼白熾燈、熒光燈之后的又一飛躍,其經(jīng)濟和社會義巨大.

質(zhì)量興企基于質(zhì)量是企業(yè)之魂,為保證產(chǎn)品質(zhì)量的穩(wěn)定提高.我司產(chǎn)品設(shè)計,生產(chǎn),檢測都經(jīng)過嚴格把關(guān),采用國內(nèi)的全自動靜電噴塑流水線等先進的加工設(shè)備及符合國家標準的靜電調(diào)試車間，以確保產(chǎn)品的質(zhì)量外觀及性能。
據(jù)GB/T1865-2009紫外光照老化箱標準中制定，輻射量測定儀：老化試驗箱中試板表面的輻照度E和曝露輻射能H，應采用具有2π球面視場和良好余弦對應曲線的光電接受器的輻射量測定儀進行測量。輻射量測定儀應根據(jù)附表B1中列出的光譜分布進行校準，應按制造商的自備說明書檢查校準值。http://www.jinyanpm.com